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    XRD(x射线粉末衍射仪)

    发布日期:2024-06-20

    基本信息

    型号:D8 ADVANCE

    厂家:布鲁克公司

    主要规格及技术指标

    射线源: Cu靶

    2θ角扫描范围:0.2–150 °

    测角仪精确度:0.001 °

    样品室控温范围:室温至450 ℃, 控制精度:0.1 ℃。

    探测器:LynxEye半导体阵列探测器,最大计数:1.3×108cps

    主要功能及特色

    应用于晶体物质定性和定量相分析,结晶学分析,结构解析、织构和残余应力分析等;可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料物相鉴定,材料可以是单晶体、多晶体、薄膜等片状、块状、粉末状固体。能在控制气氛和程序控温条件下现场原位分析物质结构的变化。配备lynxeye 超能检测器,使检测灵敏度提高一个量级,可以达到或超出旋转阳极靶的效果。